X線頭影測量的正常指標(biāo)
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病情描述：
X線頭影測量的正常指標(biāo)
張雷主任醫(yī)師北京大學(xué)口腔醫(yī)院
擅長: 口腔頜面部腫瘤的診斷與治療、口腔頜面及頭頸部組織缺損修復(fù)與重建、唾液腺疾病的診斷與治療、頜面部疾病微創(chuàng)治療。
已幫助61315人
向TA提問有用 (364)
X線頭影測量包括矢向、垂直向、牙性參數(shù)、軟組織分析重要角度等內(nèi)容，均有各自的正常指標(biāo)。
1.矢向：SNA為82.8±4°，SNB為80.1±3.9°，ANB為SNA與SNB之差，代表上頜骨與下頜骨的前后向相對位置關(guān)系，正常人為2.7±2°。
2.垂直向：MP-FH=27.2±4.7°，F(xiàn)HI=0.65~0.75。
3.牙性參數(shù)：U1-NA=22.8±5.7°，L1-NB=30.4±5.8°，U1-L1=124.2±8.2°。
4.軟組織分析重要角度：面型角FAC，正常咬合牙頜7.3±4.4°。
1.矢向：SNA為82.8±4°，SNB為80.1±3.9°，ANB為SNA與SNB之差，代表上頜骨與下頜骨的前后向相對位置關(guān)系，正常人為2.7±2°。
2.垂直向：MP-FH=27.2±4.7°，F(xiàn)HI=0.65~0.75。
3.牙性參數(shù)：U1-NA=22.8±5.7°，L1-NB=30.4±5.8°，U1-L1=124.2±8.2°。
4.軟組織分析重要角度：面型角FAC，正常咬合牙頜7.3±4.4°。
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